Классификация текстурных свойств сегментов растрового изображения с помощью набора дифференцирующих масок

Abstract

Работа представляет один из возможных подходов к анализу изображений с использованием  согласованного набора дифференцирующих масок на основе базиса Фрея-Чена. Продемонстрирована возможность применения предложенного подхода для анализа снимков, полученных методами электронной микроскопии. Предложенный подход применим во многих системах технического зрения для целей сопоставления изображений объектов, сегментации изображения и т.п.